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Nanosources and Manipulation of Atoms Under High Fields and Temperatures

Applications

Thien Binh Vu
Livre relié | Anglais | NATO Asi Series. Series E, Applied Sciences | n° 235
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Description

Local Probe Methods and Miniaturization.- Nanosources and Applications.- Low Energy Electron Microscopy.- Nanotips and Transmission Low Energy Electron Diffraction.- Lensless Low Energy Electron Point Source Microscopy.- Electron Focusing: Computer Simulation.- Nanotip Fashioning and Nanosource Characteristics.- Electron Emission from Nanometer-Size Metallic Clusters: Electronic States and Structural Stability of Supported Au Clusters.- On the Energy Dissipation in Field Emission and Tunneling Microscopy.- Miniaturized Electron Microscope.- Direct Observation of the Motion of Individual Surface Atoms on a Picosecond Timescale.- Single-Electron Manipulation Under High-Field at Room Temperature.- Focused Ion Beams and their Applications in Microfabrication.- Miniaturized Liquid Metal Ion Sources (MILMIS).- Integrated Microtips: Application to Flat Displays.- Tip-Surface Interactions and Applications.- Field-Induced Transfer of an Electropositive Atom Between Two Closely Spaced Electrodes.- Molecular Dynamics Simulations of Metal Surfaces: Surface Melting and Non-Melting, and Tip-Surface Interactions.- Atomic Manipulation Using Field Evaporation.- What is Underneath ? Moving Atoms and Molecules to Find Out.- Local Experiments Using Nanofabricated Structures in STM.- Quantum Atom Switch: Tunneling of Xe Atoms.- The Eigler Xe Switch: Its Atomic Structure from Xe Energy Minimization and STM Image Calculations.- Friction and Forces on an Atomic Scale.- Atomic-Scale Adhesion.- Local Modification of Langmuir-Blodgett Films byAtomic Force Microscopy.- Layered Semiconductors as Materials for (Sub)Nanometer Scale Surface Modification with the STM.- Micromachined Silicon Tools for Nanometer-Scale Science.- List of Participants.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
340
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 235

Caractéristiques

EAN:
9780792322665
Date de parution :
30-04-93
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
169 mm x 241 mm
Poids :
680 g

Les avis