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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Nicola Nicolici, Bashir M Al-Hashimi
167,95 €
+ 335 points
Format
Description
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 178
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 22
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441953155
- Date de parution :
- 09-12-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 276 g
