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Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis
Nobuo Tanaka
Livre relié | Anglais
340,45 €
+ 680 points
Description
The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 616
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781848167896
- Date de parution :
- 06-06-14
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 155 mm x 229 mm
- Poids :
- 1038 g
