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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
Livre broché | Anglais
118,95 €
+ 237 points
Format
Description
Introduction to VLSI Testing.- Delay Test and System-Delay Defects.- Long Path-Based Hybrid Method.- Process Variations- and Crosstalk-Aware Pattern Selection.- Power Supply Noise- and Crosstalk-Aware Hybrid Method.- SDD-Based Hybrid Method.- Maximizing Crosstalk Effect on Critical Paths.- Maximizing Power Supply Noise on Critical Paths.- Faster-than-at-speed Test.- Introduction to Diagnosis.- Diagnosing Noise-Induced SDDs by Using Dynamic SDF.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 212
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781489989529
- Date de parution :
- 28-11-14
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 331 g
