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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

Hui Xie, Cagdas Onal, Stéphane Régnier, Metin Sitti
Livre relié | Anglais | Tracts in Advanced Robotics | n° 71
158,45 €
+ 316 points
Format
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Description

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

There have been many progress on modeling, imaging, teleoperated or automated control, human-machine interfacing, instrumentation, and applications of AFM based nanorobotic manipulation systems in literature. This book aims to include all of such state-of-the-art progress in an organized, structured, and detailed manner as a reference book and also potentially a textbook in nanorobotics and any other nanoscale dynamics, systems and controls related research and education.

Clearly written and well-organized, this text introduces designs and prototypes of the nanorobotic systems in detail with innovative principles of three-dimensional manipulation force microscopy and parallel imaging/manipulation force microscopy.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
344
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 71

Caractéristiques

EAN:
9783642203282
Date de parution :
28-09-11
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
155 mm x 234 mm
Poids :
612 g

Les avis