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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet

Degradation Behavior and Damage Mechanisms

Flora Li, Arokia Nathan
Livre broché | Anglais | Microtechnology and Mems
158,45 €
+ 316 points
Format
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Description

Overview of CCD.- CCD Imaging in the Ultraviolet (UV) Regime.- Silicon.- Silicon Dioxide.- Si-SiO2 Interface.- General Effects of Radiation.- Effects of Radiation on CCDs.- UV-Induced Effects in Si.- UV Laser Induced Effects in SiO2.- UV Laser Induced Effects at the Si-SiO2 Interface.- CCD Measurements at 157nm.- Design Optimizations for Future Research.- Concluding Remarks.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Flora LiArokia Nathan
Editeur:
Springer

Contenu

Nombre de pages :
232
Langue:
Anglais
Collection :
Microtechnology and Mems

Caractéristiques

EAN:
9783642061523
Date de parution :
22-10-10
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
344 g

Les avis