- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Lock-In Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C Schubert
168,95 €
+ 337 points
Format
Description
This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 321
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 10
Caractéristiques
- EAN:
- 9783319998244
- Date de parution :
- 22-01-19
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 657 g
