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Lock-In Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C Schubert
168,95 €
+ 337 points
Format
Description
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 321
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 10
Caractéristiques
- EAN:
- 9783319998244
- Date de parution :
- 22-01-19
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 657 g
