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Mapping Nanotechnology Innovations and Knowledge
Global and Longitudinal Patent and Literature Analysis
Hsinchun Chen
153,95 €
+ 307 points
Format
Description
This book defines the application of Information Technology's systematic and automated knowledge mapping methodology to collect, analyze and report nanotechnology research on a global basis. It offers a systematic presentation of the state-of-the-art of nanotechnology. Coverage includes basic analysis, content analysis, and citation network analysis of comprehensive nanotechnology findings across technology domains, inventors, institutions, and countries. The book explores many sources in detail including, the nanotechnology patent and literature databases from the US patent Office (USPTO), the European Patent Office (EPO), and the Japanese Patent Office (JPO).
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 330
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 20
Caractéristiques
- EAN:
- 9781461498278
- Date de parution :
- 05-11-14
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 494 g
