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  7. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability

Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability

Dumin
Livre relié | Anglais | Selected Topics in Electronics and Systems | n° 23
149,95 €
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Description

This book presents in summary the state of our knowledge of oxide reliability. The articles have been written by experts who are among the most knowledgeable in the field. The book will be an invaluable aid to reliability engineers and manufacturing engineers, helping them to produce and characterize reliable oxides. It can be used as an introduction for new engineers interested in oxide reliability, besides being a reference for engineers already engaged in the field.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Dumin
Editeur:
World Scientific Publishing Company

Contenu

Nombre de pages :
280
Langue:
Anglais
Collection :
Selected Topics in Electronics and Systems
Tome:
n° 23

Caractéristiques

EAN:
9789810248420
Date de parution :
28-01-02
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
170 mm x 256 mm
Poids :
625 g

Les avis