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Parameterextraktion Bei Halbleiterbauelementen
Simulation Mit PSPICE
Peter Baumann
Livre broché | Allemand
39,45 €
+ 78 points
Format
Description
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 217
- Langue:
- Allemand
Caractéristiques
- EAN:
- 9783658409562
- Date de parution :
- 02-05-23
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 168 mm x 240 mm
- Poids :
- 377 g
