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Radiation Effects & Soft Errors ...(V34)
247,45 €
+ 494 points
Description
This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 348
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 34
Caractéristiques
- EAN:
- 9789812389404
- Date de parution :
- 03-08-04
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Ongenaaid / garenloos gebonden
- Dimensions :
- 168 mm x 249 mm
- Poids :
- 680 g
