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Scanning Force Microscopy

With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces

Dror Sarid
Livre relié | Anglais | Oxford Optical and Imaging Sciences | n° 5
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Description

This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Dror Sarid
Editeur:
Oxford University Press

Contenu

Nombre de pages :
288
Langue:
Anglais
Collection :
Oxford Optical and Imaging Sciences
Tome:
n° 5

Caractéristiques

EAN:
9780195092042
Date de parution :
25-08-94
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
164 mm x 245 mm
Poids :
680 g

Les avis