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Structure Determination of Transition Metal Chalcogenides
Abhay Dasadia, Vanaraj Solanki, Brinda Nariya
Livre broché | Anglais
39,45 €
+ 78 points
Description
The X-ray diffraction is a useful tool for research work and different types of analysis like powder analysis, texture analysis, stress analysis, single crystal analysis, high-resolution analysis. All of these studies are under nondestructive testing.This book emphasizes on structure determination techniques of transition metal chalcogenides using x-rays diffraction. Work presented in book mainly describes the use of Powder X-ray Diffraction (PXRD) and single crystal diffraction calculations for the determination of crystal structure for transition metal chalcogenides.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 60
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9786200267146
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 150 mm x 220 mm
