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Thin Film Materials
Stress, Defect Formation and Surface Evolution
L B Freund, S Suresh
Livre relié | Anglais
106,95 €
+ 213 points
Format
Description
This book provides comprehensive coverage of stress, defect formation and surface evolution in thin films. With its balanced coverage of theory, experiment and simulation and many homework problems, the text will be essential reading in senior undergraduate and graduate courses on thin films.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 770
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9780521822817
- Date de parution :
- 02-02-04
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 182 mm x 251 mm
- Poids :
- 1632 g
